Předmět: Moderní mikroskopické metody

« Zpět
Název předmětu Moderní mikroskopické metody
Kód předmětu KEF/PGMID
Organizační forma výuky Konzultace
Úroveň předmětu Doktorský
Rok studia nespecifikován
Semestr Zimní a letní
Počet ECTS kreditů 5
Vyučovací jazyk Čeština, Angličtina
Statut předmětu nespecifikováno
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
  • Kubínek Roman, doc. RNDr. CSc.
Obsah předmětu
Světelná mikroskopie Metoda fázového kontrastu, UV a IČ mikroskopie, Fluorescenční mikroskopie, Polarizační mikroskopie, Interferenční mikroskopie (Nomarského interferenční kontrast, Hofmanův modulační kontrast), Konfokální laserová mikroskopie, Optická skenovací mikroskopie v blízkém poli. Elektronová mikroskopie Transmisní elektronová mikroskopie, Rastrovací elektronová mikroskopie, Nízkonapěťová elektronová mikroskopie, Elektronová mikroskopie s vysokým rozlišením, Elektronová mikroskopie s volitelným vakuem (biologické aplikace). Mikroskopie skenující sondou Skenující tunelová mikroskopie, Mikroskopie atomárních sil, Mikroskopie magnetických sil, Mikroskopie elektrostatických sil, Mikroskopie laterálních sil, Skenovací kapacitní mikroskopie, Skenovací teplotní mikroskopie, Skenovací optická mikroskopie v blízkém poli.

Studijní aktivity a metody výuky
Přednášení
  • Účast na výuce - 36 hodin za semestr
Výstupy z učení
Světelná mikroskopie. Elektronová mikroskopie. Mikroskopie skenující sondou.
Předmět zaměřený na schopnost pochopení principů optických, elektronoptických metod a metod využívajících skenující sondy. Hodnotit konkrétní metody a postupy, vysvětlit aspekty a výsledky týkající se dané problematiky, integrovat poznatky, předpovídat řešení, hodnotit výsledky a formulovat závěry.
Předpoklady
Student má fyzikální znalosti ze základního kurzu fyziky, zejména optiky a elektřiny a magnetismu. Dokáže základní poznatky fyziky integrovat v optických i optoelektronických přístrojích typu světelného a elektronového mikroskopu.

Hodnoticí metody a kritéria
Známkou, Seminární práce

Znalost teoretickch základů mikroskopických metod a jejich využití v praxi
Doporučená literatura
  • Douglas B. Murphy. (2001). Fundamentals of Ligt Microscopy and Electronic Imagin. Wiley-Liss.
  • Kubínek, R., Mašláň, M., Vůjtek, M. (2002). Mikroskopie skenující sondou. UP Olomouc.
  • Reimer, L. (1998). Scanning Electron Microscopy.Physics of Image Formation and Microanalysis.. Springer.
  • Vůjtek, M., Kubínek, R., & Mašláň, M. (2012). Nanoskopie. V Olomouci: Univerzita Palackého.


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr